各个网上都有关于烧USB口或烧南桥的惨事很多。。。各位兄弟要注意了
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2 D5 y q% ^0 a, w这主要是INTEL南桥的问题哈，平时要注意以下一些，但选好USB线也是重中之重啊！！！！
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看下面的实际实验吧：
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我们开发的USB—PWM-DIO采集卡，用到差的线，老是和PC机通讯失败丢失
数据的现象，经细心研究发现USB线对稳定比起到60%的比重！！！！
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! {' K7 i2 K. O& g! J( m测试设备：1、普通数字能用表1只，
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2、数字存贮示波器1台，GDS-810S双通道100MHZ测量带宽，25G等效采样频率。
( H- {4 J2 w* t+ j2 ? 3、我们新开发的USB_pwm_DIO多
功能采集卡一块
9 E' Z( o6 _- O4 t 4、市场买的，所谓的USB2.0线一条（乳白色线），我们定制的标准USB2.0带双磁环的EMI线一条。
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5、本本：T30（USB1.1），SONY-FS15C（USB2.0）
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! e- T/ l* L9 Y6 `测试目的：在两个本本上装好USB采集卡的驱程后，插上USB线。
8 t: A U3 s$ K9 \: n. r 1、测试USB口与卡的通讯信号质量及抗干扰波形，
+ F2 v6 w6 K: T8 D0 F* A- ], x 2、测试USB线的电阻。
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实验开始：
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4 F6 P- f3 t& U& B% k& `# k5 l" H 1）、先测试两线外部屏蔽层阻值对比：
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先记下万用表的内阻初值：1.2呢
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A、 所谓的USB2.0线一条（乳白色线），看图
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B、 定制的标准USB2.0带双磁环的EMI线，看图
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6 X# d }4 A1 ]4 N' A C、测试得线内部的四线电阻对比，白线内线均为1.7R左右，定制线内线均为1.2R,哪个阻值大知道了吧，这两个阻值测试不上图。
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2）、波形测试：
. Z# r9 j/ D g A、所谓的USB2.0线一条（乳白色线），看下图，杂波多，波形偏圆（这对通讯质量是致命的）
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4 r- c( P: E2 S' E3 R! r* u B、再来看看定制的EMI线吧，波形方方矩矩的，波形质量好得多了啊~
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就这四个图，就发现，这两条线的差别有多大！！！！！！！
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& p1 }3 s, o |) X& A白线使用时，传输数据经常失败，定制线就非常的稳定，从没见通讯失败过（经过7天严格老化测试）。
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8 _/ }' C4 ?% X' O) |: N那条白线在市场里买了10条回来都没一条能用，10条还贵着，5元一条
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我定制了一小批，8元一条。线材、USB头，EMI磁环我指定供应商。钱差得不多，
价格可差得远了。
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0 N! G; T# m `% u% l ~作者: capron 责任编辑: zjerry 报导时间: 2006-11-3 21:52' P, A3 D+ X" B0 B) ^% Z
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【原创】关于烧USB口的要关注了，线材也关键！ 
